작업기억
Working Memory Battery
정보를 일시적으로 유지하면서 동시에 조작하는 능력을 측정합니다. ADHD·읽기 어려움·언어발달 지연의 공통 기저 요인으로, 전 연령 핵심 선별 지표입니다.
배터리 개요
Baddeley 작업기억 모델의 세 하위 시스템(음운 루프·중앙 집행기·시공간 스케치패드)을 독립적으로 측정합니다. 세 검사의 Span 차이 패턴으로 결함 하위 시스템을 특정할 수 있으며, ADHD·읽기 어려움·언어발달 지연 모두에서 일관된 저하가 관찰됩니다.
세부 검사
숫자 순서 기억
Digit Span Forward
숫자 시퀀스를 듣고 같은 순서로 탭하는 과제입니다. Baddeley 작업기억 모델의 음운 루프(phonological loop) 용량을 측정합니다. 음운 루프는 언어적 정보를 단기적으로 유지하고 내적 발화로 반복하는 기능을 담당하며, 이 용량이 낮으면 새 단어 해독과 독해 이해 모두에 어려움이 생깁니다.
정상 범위
| 측정 항목 | 정상 기준 |
|---|---|
| 최대 Forward Span (자릿수) | 연령 규준 ±1SD 이내 |
| 정반응률 | 85% 이상 권장 |
ADHD·읽기 어려움 고위험군에서 Forward Span 저하 패턴이 관찰됩니다. 음운 루프 용량 저하는 단어 해독 속도 저하 및 어휘 학습 어려움과 직접 연관됩니다.
메타분석 결과 ADHD 아동은 정상 발달 아동 대비 언어적 작업기억(Digit Span)이 유의하게 저하되며, 이는 음운 루프 결함과 실행기능 저하를 반영하는 신뢰도 높은 지표로 확인되었다. (Martinussen et al., 2005)
숫자 역순 기억
Digit Span Backward
숫자를 듣고 머릿속에서 뒤집어 역순으로 탭하는 과제입니다. 단순 저장이 아니라 저장하면서 동시에 조작하는 중앙 집행기(central executive) 기능을 측정합니다. 순방향 Span과의 차이(B-F 차이)가 크면 조작 기능의 선택적 결함을 시사합니다.
정상 범위
| 측정 항목 | 정상 기준 |
|---|---|
| 최대 Backward Span | Forward Span - 2 이내 정상 |
| 순·역 Span 차이(B-F) | 2 이하 권장 |
ADHD·언어발달 지연 고위험군에서 B-F 차이 과다 또는 Backward Span 자체 저하 패턴이 관찰됩니다. Forward Span이 보존된 경우에도 Backward 저하는 선택적 실행 기능 결함을 시사합니다.
ADHD 아동의 역방향 Digit Span은 순방향 Span이 상대적으로 보존된 경우에도 저하를 보이며, 이는 저장 기능과 독립된 조작(manipulation) 실행 기능의 특이적 결함을 반영한다고 보고되었다. (Alloway & Gathercole, 2006)
공간 순서 기억
Spatial Span Test (Corsi Block)
화면의 블록이 순서대로 점멸하면 같은 순서로 탭하는 디지털 Corsi Block 과제입니다. Baddeley 모델의 시공간 스케치패드(visuospatial sketchpad) 용량을 측정합니다. 언어적 작업기억(Digit Span)과 독립적으로 측정되어 결함 하위 시스템을 특정할 수 있습니다.
정상 범위
| 측정 항목 | 정상 기준 |
|---|---|
| 최대 공간 Span (블록 수) | 연령 규준 ±1SD 이내 |
| 정반응률 | 85% 이상 권장 |
ASD·발달성 협응 어려움(DCD) 고위험군에서 시공간 Span 저하 패턴이 관찰됩니다. Digit Span이 정상이어도 Corsi Block이 저하되면 시공간 처리 경로의 특이적 결함을 시사합니다.
학습 어려움 아동의 공간 작업기억(Corsi Block) 수행은 IQ보다 이후 학업 성취를 더 강력하게 예측하며, 언어적 작업기억 결함과 독립적으로 나타날 수 있음이 보고되었다. (Alloway, 2009)
이 검사가 궁금하신가요?
도입 문의를 남기시면 담당자가 직접 안내해 드립니다.